DIC 2022展商丨鑫業(yè)誠,專注視覺+激光的光學(xué)解決方案提供商
2022-01-18 10:11:27
公司簡介
01
CG玻璃蓋板AOI檢測設(shè)備 UNG-ROL系列
設(shè)備針對玻璃蓋板清洗、瑕疵檢測和覆膜而設(shè)計的自動化設(shè)備,適用于5-15.6”CG的雙面清洗、AOI視覺檢查以及雙面簡易覆膜。設(shè)備整體方便操作維護、結(jié)構(gòu)緊湊、外觀良好,擁有穩(wěn)定的稼動,可有效清除CG表面的異物、白點、手指印記,AOI可以實現(xiàn)劃傷、異物、凹凸點、缺墨、崩邊、絲印不良&孔類不良等常規(guī)不良項目檢測,最后進行簡易覆膜并對OK/NG品分類下料。
應(yīng)用展示:
產(chǎn)品亮點:
1、16K高行頻線陣相機,可實現(xiàn)快速檢測。
2、線陣和面陣相機相結(jié)合,可有效檢出3D玻璃大面和弧面的缺陷。
3、組合光源快速切換技術(shù),可設(shè)計多光源方案。
4、高精度滾輪傳送系統(tǒng),確保成像品質(zhì)。
5、設(shè)定產(chǎn)品型號,可一鍵換型。
6、不良位置可準確標識,實現(xiàn)可視化、可追溯。
7、潔凈不落塵材料,減少灰塵導(dǎo)致的過判。
8、自主開發(fā)軟件,功能豐富。
9、人性化軟件界面,操作簡單,穩(wěn)定性強。
10、多功能報表輸出,方便數(shù)據(jù)管控。
02
微納封裝模組AOI檢測設(shè)備UNG-AOI-V2030
主要用于芯片封裝制程過程中缺陷及尺寸檢測,該設(shè)備具備2D視覺檢測工站和 3D激光檢測工站,可針對不同類型的尺寸及缺陷進行全面檢測。
2D視覺檢測工站可以檢測裝配前的芯片、間隙片,焊線及陶瓷基板的外觀尺寸及瑕疵,裝配后的陶瓷基板外觀尺寸及瑕疵及成型封裝后的上下表面的尺寸及外觀瑕疵。
3D激光檢測工站可以檢測芯片、間隙片及陶瓷基板上方的焊線高度方向的檢測,裝配前后的陶瓷基板高度方向尺寸,焊線高度,元件傾斜度BLT厚度等三維方向的特征檢測。
應(yīng)用展示:
產(chǎn)品亮點:
1、設(shè)備支持離線或者在線使用。
2.、視覺檢測工站可以檢測裝配前的芯片、間隙片,焊線及陶瓷基板的外觀尺寸及瑕疵,裝配后的陶瓷基板外觀尺寸及瑕疵及成型封裝后的上下表面的尺寸及外觀瑕疵。
3、3D激光檢測工站可以檢測芯片、間隙片及陶瓷基板上方的焊線高度方向的檢測,裝配前后的陶瓷基板高度方向尺寸,弧線離保護環(huán)距離,焊線高度,元件傾斜度BLT厚度等三維方向的特征檢測。
4、設(shè)備可以按照客戶要求提供數(shù)據(jù)追溯功能,具備通過網(wǎng)絡(luò)通信的SECS/GEM、MES或客戶定制的通信協(xié)議。
5、設(shè)備潔凈度滿足萬級無塵室等級。
03
3D顯微鏡檢測設(shè)備
實現(xiàn)了相當于光學(xué)顯微鏡 20 倍以上的景深。鏡頭、相機、成像軟件均由鑫業(yè)誠自行設(shè)計,實現(xiàn)了景深與亮度平衡下的觀察。可以輕松、直觀地進行觀測。
應(yīng)用展示:
產(chǎn)品亮點:
精密:壓電回饋驅(qū)動,響應(yīng)速度快,納米級定位,測量精度高。
智能:結(jié)構(gòu)光光譜共焦掃描,掃描精度高,適用不同材質(zhì)測量。
超快:精密直驅(qū)運動,亞微米級超大范圍XY定位機構(gòu)。
04
攝像頭金屬小環(huán)篩選設(shè)備UNG-ROT系列
針對金屬小環(huán)的尺寸測量和產(chǎn)品打標的全自化檢測設(shè)備,可以實現(xiàn)外徑、內(nèi)徑、上高度、下高度,上下臺階孔直徑,外臺階孔直徑等要素測量;檢出同時可以進行激光打標。
應(yīng)用展示:
<section style="margin: 0px 8px; padding: 0px; max-width: 100%; color: rgb(51, 51, 51); font-family: mp-quote, -apple-system-font, BlinkMacSystemFont,