DIC 2022展商丨瑟米萊伯，光伏、半導體、平板、LED領域檢測設備供應商
2022-03-03 13:40:33
公司簡介
SEMILAB（展位號：F109）成立于1989年，是一家全球領先的檢測設備供應商，擁有先進的電學、光學測試技術，產品被廣泛應用于光伏、半導體、平板、LED和科學研究等領域。公司總部位于匈牙利布達佩斯，在美國、中國設有研發與生產中心，在歐洲和亞洲主要國家和地區都設有分支機構。
自2004年以來，semilab相繼收購了一系列公司和光學、電學測試技術，到目前為止已經擁有超過150項專利技術，成長為泛半導體行業領先的測試設備供應商，給客戶的產品監控和質量控制提供完整的解決方案。
01
FPT測試平臺
02
SEMI測試平臺
針對快速發展的微顯示技術，Semilab推出了基于半導體工業的晶圓測試平臺，可以應用于硅基OLED、Micro LED等顯示技術，滿足不同尺寸的晶圓及玻璃圓片的在線工藝測試。
兩種產品都可以集成Semilab不同的檢測技術，包括電學特性、光學特性和表面形貌分析，給用戶提供高效的定制化測試方案。
① 業界領先的光學、電學測試技術，包括薄膜膜厚及光學性能測試、半導體薄膜的電學性能表征、薄膜電學/光學缺陷測試和微觀結構表面形貌測試等等。
03
用于研發、質控的測試設備
·汞探針CV測試儀：
MCV測試儀采用氣動控制，通過無損傷和頂部汞接觸的探頭設計，消除了對貴金屬或多晶硅沉積工藝的需求。設備具有極其穩定的接觸面積，僅使用少量汞就可以進行高重復性的C-V和I-V測量，廣泛用于工藝開發和生產過程監控，是半導體/外延層和介電層表征的卓越技術。
·光譜型橢偏儀：
- 非破壞性光學技術，基于測量在非垂直入射時，光在樣品表面反射前后偏振狀態的變化，來獲取樣品的厚度、折射率和消光系數等信息。
- 即使對于低于5nm的薄膜厚度，也具有高度的靈敏度的技術。
·拉曼光譜測試儀：
拉曼光譜是一種能夠實現實時監測和表征的方法。該方法基于拉曼效應，該效應描述了固體材料晶格振動（聲子）所涉及到的彈性散射光。從散射光的能量偏移，強度和偏振狀態中，可以獲得有關固體本身性質的豐富信息。
·原子力顯微鏡：
- Semilab在掃描探針顯微鏡應用領域和制造領域擁有豐富的經驗，可幫助用戶在最短的時間內獲得最佳和最可靠的結果。
- Semilab AFM設備的緊湊設計保證了出色的穩定性和掃描速率。獨特的即插即用懸臂更換確保了儀器的快速和安全操作。
·納米壓痕測試儀：
·微波光電導衰退測試儀：
·渦流法電阻測試儀：
