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Shenzhen International Cross-border E-commerce Trade Fair 2019

2019 第三屆深圳國際跨境電商交易博覽會

2019.11.03

www.icbeexpo.com

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展會新聞

DIC 2022展商丨特儀科技,光電顯示行業自動化檢測設備專業制造商

2022-10-10 12:57:21


公司簡介

廈門特儀科技有限公司(展位號:F513)廈門特儀科技有限公司是光電顯示行業自動化檢測設備的專業制造商,是未來顯示領域檢測設備商的領軍企業。

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公司秉持“優化設計 全程管控 持續改善 精益求精”的質量方針,致力于為客戶提供最具競爭力的產品及服務,深耕于需求方案、研發設計、系統集成及安裝調試等“一站式”整體解決方案。

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營業范圍:光學性能檢測、外觀視覺檢測、老化測試、光學參數調整、色斑修復De-mura和畫面缺陷AOI檢測等。


明星產品

01

Wafer厚度檢測設備


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設備尺寸:長*寬*高:2800mm * 1700mm * 2300mm

適用產品:4-12inch wafer UPH 300~400pcs/h

陶瓷盤固定方式:卡槽固定 

測量方式:非接觸測量

制品表面:芯片無劃傷、壓傷

測量精度:±1μm

每片測量點數:5點(測試點位可選,距離邊緣5mm,上中下左右 )

設備自動化:符合SECS/GEM標準的廠務自動化軟件,有預留通訊接口

軟件:特儀自主開發之軟件,全中文版,C#編程模塊化,操作簡單,UI界面可依據客戶需求進行定制,軟件自帶各標準測試手法,可以通過直接調用模式進行測試

02

測試分選設備-低階


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產品尺寸:長*寬*高:1520mm * 1480mm * 1870mm

封裝形態:SOT235 /SOT223 /SOT533 /SOT563 /SOT323 /SOT363 /SOD323FL等

UPH:45000pcs/H

測試站:可支持6站測試

接觸類型:彈片式 

進料:振動盤/料管

出料編帶/料管

打標機參數:10W激光打標機/20W脈沖打包機(可選

相機分辨率:40萬CCD(640*480pixels) /160萬CCD(1280*1080pixels)

精度:0.012mm/pixel

循環周期:≤35ms

總線程序:精度高、速度快,開放所有伺服參數設定,方便設備調試監控MTBA各項原始數據記錄

軟件:特儀自主開發之軟件,全中文版,C#編程模塊化,操作簡單,UI界面可依據客戶需求進行定制,軟件自帶各標準測試手法,可以通過直接調用模式進行測試


03

測試分選設備-高階


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設備尺寸:長*寬*高:1700mm * 1400mm * 1890mm

封裝形態:QFN,QFP,BGA,LGA,PLCC,PGA, CSP,TSOP等

Test Layout:1/2/4/8 site 

UPH:8500pcs/H

進料:Tray

出料:Tray

打標機參數:10W激光打標機/20W脈沖打包機(可選)

相機分辨率:40萬CCD(640*480pixels)/160萬CCD(1280*1080pixels)

精度:0.012mm/pixel Index Time Min.380ms

軟件:特儀自主開發之軟件,全中文版,C#編程模塊化,操作簡單,UI界面可 依據客戶需求進行定制,軟件自帶各標準測試手法,可以通過直接調用模式進行測試


04

高溫退火爐設備


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設備尺寸:長*寬*高:3500mm * 1410mm * 2080mm
適用產品:適用于8.8寸基板薄膜

退火工藝降溫效率:300°C-90°C在60min以內到達

溫度均勻性:>200℃±3℃;200~500℃±5℃

氣體控制:無氧控制

控制方式:三菱PLC制御+溫制器+PC設定溫度時間與操作

軟件:特儀自主開發之軟件,全中文版,C#編程模塊化,操作簡單,UI界面可依據客戶需求進行定制,軟件自帶各標準測試手法,可以通過直接調用模式進行測試


05

先進封裝壓膜設備


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設備尺寸:長*寬*高:4200mm * 2200mm * 2100mm
產品尺寸:兼容4/6./8/12inch晶圓以及鋼板300*300mm ~600mm*620mm
設備自動化:符合SECS/GEM標準的廠務自動化軟件,有預留通訊接口
工作溫度:可加熱
搬送機構:
1.頂PIN采用單動力模式,防止升降速度差異導致異常
2.頂PIN針對不同型號共采用8組獨立真空組件控制
貼合方式:外準備+真空腔體貼合
溫控器控制方式:帶自動調節的PID控制、ON-OFF控制
溫控器采樣周期:500ms
溫控器指示精度:指示值的±2%
軟件:特儀自主開發之軟件,全中文版,C#編程模塊化,操作簡單,UI界面可依據客戶需求進行定制,軟件自帶各標準測試手法,可以通過直接調用模式進行測試

06

植球機設備


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設備尺寸:長*寬*高:4200mm * 2200mm * 2100mm
適用產品:兼容基板尺寸50*50mm ~ 600mm * 620mm 
特點:通過高精度絲網印刷和視覺圖像處理技術,微球精準對位搭載 
優勢:一次性搭載,具有安定化批量生產和高搭載率的優勢 
軟件:特儀自主開發之軟件,全中文版,C#編程模塊化,操作簡單,UI界面可依據客戶需求進行定制,軟件自帶各標準測試手法,可以通過直接調用模式進行測試

07

MIT光學測試系統(wafer測試)


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尺寸:長*寬*高:2.84m * 1.90m * 2.40m

測試樣品大小:8"&12" wafer

光譜儀:CS-2000A/SR-UL2/PR788/SR3

相機:4300萬,高分辨率CCD

運動系統:采用高精度伺服電機,高精度滾珠螺桿

功能:色度、亮度、均勻性、光譜測試等;支持:、線、面缺陷測試,mura測試

信號:支持特儀自制信號機以及市面通用品牌信號機,支持客制化信號,信號格式:TTL/LVDS/MIPI/HDMI/edp/2K&4K&8K等

電源:支持高精度多路直流電源輸出,以及客制化電源需求

軟件:特儀自主開發之軟件,全中文版,C#編程模塊化,操作簡單,UI界面可依據客戶需求進行定制,軟件自帶各標準測試手法,可直接調用對應模式進行測試

宣傳圖7.2.png

設備特點:

? 晶圓光學測試系統,8&12inch各種材質晶圓;

? 自動三軸運動控制,Wafer上下料,自動對位,自動測試;

? 多功能夾具,支持8" &12"探針卡;

? 多儀器搭載,支持AOI與光學測試。


08

全自動藍寶石襯底外觀檢測設備


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產品型號:TY-AOI-087

主相機配置:面掃≥1200萬

Stage:平坦度≤±1um,位置精度≤±0.1um

軟件算法:特儀自主算法

檢測項目:各種不良項目及平面度

檢驗精度:0.5um

檢驗方向:上、下、左右側視皆可

測試儀:檢出率≥99%、誤檢率≤1%

控制系統:控制系統采用的執行元件應具備高精度、高可靠性和反應迅速的特點

軟件:特儀自主開發之軟件,全中文版,C#編程模塊化,操作簡單,UI界面可依據客戶需求進行定制,軟件自帶各標準測試手法,可以通過直接調用模式進行測試


09

全自動外觀檢測AOI


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尺寸:長*寬*高:W1300 x D1470 x H1640mm

主要功能:回流焊:偏移、錯件、缺件、側立、方向、極性等

測試產品:3milx3mil~80milx80mil(Mini LED&Micro LED產品)

相機分辨率:12M工業高速相機,3.5pm-8pm (可調)

檢測速度:400ms/FOV(2D+3D)

適用類型:

直顯屏封裝?適用(SMD、COB、CSP、4in1)工藝

背光板封裝?適用(PCB、FPC、玻璃基)工藝

回流焊后全自動外觀檢查

運動系統:采用高精度伺服電機,高精度滾珠螺桿,微米級

軟件:特儀自主開發之軟件,全中文版,C#編程模塊化,操作簡單,UI界面可依據客戶需求進行定制,軟件自帶各標準測試手法,可以通過直接調用模式進行測試