展商精選丨華測蔚思博檢測，超高功耗與驅動芯片一站式試驗解決方案提供商
2023-05-06 14:40:20
公司簡介
華測蔚思博檢測技術有限公司（展位號：5A26）為第三方半導體檢測服務實驗室，2004年創于新竹科學園區，2017年于上海及合肥建構完整檢測平臺服務，積累近20年集成電路檢測經驗，通過CNAS、ISO 9001、ISO 17025、ISO 27001、ANSI/ESD S20.20等多項資質認證，為半導體產業提供超高功耗（AI/GPU/CPU)、驅動芯片、第三代半導體、汽車電子相關可靠性驗證、Burn-in量產服務；先進封裝DPA分析技術與失效分析、ESD靜電驗證等服務。
蔚思博以專業團隊及尖端設備，為客戶提供完整的芯片工程驗證與質量檢測解決方案，客戶涵蓋國內前二十大芯片設計公司、知名晶圓廠、封測廠，成為半導體產業鏈中重要的合作伙伴。
推薦產品
Driver IC專用老化試驗一站式服務
顯示器驅動IC (LCD Driver IC)為驅動顯示器面板的關鍵零組件以電氣訊號形態，將影像與數據等信號傳送至顯示器面板，因應LCD Driver IC特殊封裝方式TCF(Tape Carrier Package) / COF(Chipon Film) / COG(Chip on Glass)在可靠性試驗上多采用COB(Chip on Board)封裝執行，蔚思博檢測在合肥建置Bonding及快封技術, 并整合RA老化試驗平臺, 提供LCD Driver IC客戶一站式的老化試驗服務。結合專用精密烘箱及高端MIPI顯示訊號架構，同時搭配專業測試硬件設計團隊搭建出國內最完整的顯示屏驅動芯片老化試驗平臺架構，包含芯片高溫壽命試驗(HTOL)、芯片溫濕度偏壓試驗(THB)，以提供高效、專業的可靠度試驗服務。
SWAP壓著制程服務
滿足驅動芯片客戶產品開發及異常分析等需求，提供高效、專業、垂直整合的一站式驅動芯片分析服務。包含COG / FPC / COF Bonding、IC / Panel / FPC Remove 、IC / Panel / FPC Recycle & Swap等完整服務。
AEC-Q車電與功率器件可靠性驗證
全方位汽車電子及功率器件（IGBT/MOSFET）一站式整合驗證服務。整合FIB、故障分析、ESD靜電測試、硬件設計服務、可靠度試驗等，形成一個完整的服務網絡，協助客戶快速進入車用電子市場。
可靠性試驗服務
完整的半導體可靠性試驗一站式服務，包含技術整合咨詢、實驗設計規劃、硬件設計制作、可靠性試驗、壽命預估等，協助客戶通過JEDEC、MIL-STD、AEC-Q等國際試驗標準。
失效分析服務
提供EFA與PFA之設備與工程技術支持服務,針對IC組件的量產、測試、可靠度驗證、客退等的失效品,提供晶圓切割、芯片打線樣品Re-ball、Decap、Delayer、Cross-section、X-RAY、EMMI、電性IV偵測等服務。
靜電防護測試
提供業界先進ESD/LU測試設備協助客戶進行各類封裝的靜電防護測試（HBM、MM、CDM）。由資深工程團隊進行實驗操作，效率的提供客戶專業的檢測報告。
